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iEDX-150WT型號光譜儀軟件功能

1) 軟件應(yīng)用
- 單鍍層測量
- 線性層測量，如：薄膜測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時(shí)進(jìn)行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測量。
- 無電鍍鎳測量
- 吸收模式的應(yīng)用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

- 勵(lì)磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法可以滿足所有應(yīng)用領(lǐng)域的測量

2) 軟件標(biāo)定
- 自動(dòng)標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析

- 使用無標(biāo)樣基本參數(shù)計(jì)算方法

- 使用標(biāo)樣進(jìn)行多點(diǎn)重復(fù)標(biāo)定

- 標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動(dòng)調(diào)整功能

3) 軟件校正功能：
- 基點(diǎn)校正（基線本底校正）

- 多材料基點(diǎn)校正，如：不銹鋼，黃銅，青銅等

- 密度校正

    4) 軟件測量功能：
    - 快速開始測量

    - 快速測量過程

    - 自動(dòng)測量條件設(shè)定（光管電流，濾光片，ROI）

    5) 自動(dòng)測量功能（軟件平臺）

    - 同模式重復(fù)功能（可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)檢測）

    - 確認(rèn)測量位置 (具有圖形顯示功能)

    - 測量開始點(diǎn)設(shè)定功能（每個(gè)文件中存儲原始數(shù)據(jù)）

    - 測量開始點(diǎn)存儲功能、打印數(shù)據(jù)

    - 旋轉(zhuǎn)校正功能

    - TSP應(yīng)用

    - 行掃描及格柵功能

    6) 光譜測量功能

    - 定性分析功能 （KLM 標(biāo)記方法）

    - 每個(gè)能量/通道元素ROI光標(biāo)

    - 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能

    - 光譜比較顯示功能：兩級顯示/疊加顯示/減法

    - 標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能（強(qiáng)度、能量）

    7） 數(shù)據(jù)處理功能

    - 監(jiān)測統(tǒng)計(jì)值： 平均值、 標(biāo)準(zhǔn)偏差、 大值。

    - 小值、測量范圍，N 編號、 Cp、 Cpk，

    - 獨(dú)立曲線顯示測量結(jié)果。

    - 自動(dòng)優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件

    8）其他功能

    - 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境

    - 獨(dú)立操作控制平臺

    - 視頻參數(shù)調(diào)整

    - 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接

    - Multi-Ray、Smart-Ray自動(dòng)輸出檢測報(bào)告（HTML，Excel）

    - 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......

    - 數(shù)據(jù)庫檢查程序

    - 鍍層厚度測量程序保護(hù)。

• 儀器維修和調(diào)整功能

    - 自動(dòng)校準(zhǔn)功能；

    - 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境；

    - 自動(dòng)校準(zhǔn)過程中值增加、偏置量、強(qiáng)度、探測器分辨率，迭代法取決于峰位

      置、 CPS、主X射線強(qiáng)度、輸入電壓、操作環(huán)境。